Agenda i actes
Carrega més esdeveniments
Torna a l'agenda
1a Jornada de Metrologia a Catalunya
Organització:
Secció Catalana de Metrologia de la Societat Catalana de Tecnologia de l’IEC
divendres
27
gener
2017
9 h
Sala Pi i Sunyer de l’IEC
Jornada de presentació de la nova Secció Catalana de Metrologia de la Societat Catalana de Tecnologia, que inauguraran el president de l’IEC, Joandomènec Ros; la presidenta de la Societat Catalana de Tecnologia, Núria Salán, i el subdirector general de Seguretat Industrial, Isidre Masalles.